新聞中心
- [2020-18-07]測(cè)試針的定義
- [2017-17-03]ICT探針的組成結(jié)構(gòu)
- [2017-17-03]測(cè)試探針內(nèi)部阻值的研究
- [2017-17-03]IC芯片測(cè)試治具選擇探針需要考慮哪些因素?
- [2017-17-03]半導(dǎo)體封裝形式和探針的選用
- [2017-17-03]測(cè)試用探針有哪些參數(shù)指標(biāo)
- [2017-17-03]測(cè)試探針多久需要更換